X線頭影測量技術由美國的Broadbent和德國的Hofrath於1931年創立。其方法是用頭顱定位儀使每張X線片的頭顱位置完全一致，並使每張影像大小標準化，以便彼此有可比性。該技術的問世為正畸臨床實踐及其研究提供了有價值的工具。建立該技術的最初目的是研究顱面的生長型，不久，人們就發現該技術還可以用來闡明牙頜畸形的解剖基礎，用於正畸的診斷分析和預後的估計。目前，X線頭影測量技術已被廣泛應用於正畸治療的分析中。通過矯治前、矯治中、矯治後和保持後的X線頭顱側位片的描圖進行重疊，就可觀察出牙、頜、顱面在矯治前的問題及其在矯治和生長期間的改變。這可有助於提高臨床診斷和矯治水準。

X線頭影測量技術還常用於分析和預測顱面的生長發育變化。如果被預測的生長變化與矯治改變的預測相結合，其結果就是正畸治療的藍圖。

X線頭影測量分析提供了有關顱面部三個平面上的資訊。頭顱側位片顯示了顱面的矢向（前後關係和垂直關係）情況。X線頭顱後前位片揭示了面部兩側的對稱性，中線切牙關系和麵寬（橫徑）。

在分析牙頜畸形時，應確定以下2個基本問題：

1. 前後向的比例失調

（1） 骨骼型安氏II類。

（2） 骨骼型安氏III類錯頜。

要估計下頜後縮或前突到什麼程度，則與安氏I類或II類有關，上頜前突或後縮到什麼程度，則屬於安氏II類或III類。

2. 垂直向比例失調

（1） 骨骼型開頜。

（2） 骨骼型深覆頜。

下麵高小或大到什麼程度，則屬於深覆頜或開頜結構。

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