Steiner於1953年提岀他的具有十四項測量項目的頭影測量分析法。在他的分析法中,他除了把其他分析法的測量項目擇優選取外,還增添了一個很重要的內容,那就是把來自模型的資訊與頭影測量分析聯繫起來,提岀了有實用價值的臂章分析法。
臂章分析法是在測量分析的基礎上,再作進一步分析。它主要適合於安氏1類及II類牙頜畸形的病例。
臂章分析是以ANB角與ULNA、LI-NB的四項測量之間存在顯著的相關關係為基礎的。同時利用測量之間的相互補償構成牙頜、顱面的相對協調關係。由於該分析將ANB角、LI-NB、UI-NA和Po-NB等測量值置於<型符號之上下左右,而<符號形同臂章,故稱之為臂章分析法。其中臂章頂部為ANB角值,左上方為UI-NA距(mm),右上方為UI-NA角值,左下方為LI-NB距(mm),右下方為LI-NB角值,底部為Po-NB距值。
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臂章分析法是在測量分析的基礎上,再作進一步分析。它主要適合於安氏1類及II類牙頜畸形的病例。
臂章分析是以ANB角與ULNA、LI-NB的四項測量之間存在顯著的相關關係為基礎的。同時利用測量之間的相互補償構成牙頜、顱面的相對協調關係。由於該分析將ANB角、LI-NB、UI-NA和Po-NB等測量值置於<型符號之上下左右,而<符號形同臂章,故稱之為臂章分析法。其中臂章頂部為ANB角值,左上方為UI-NA距(mm),右上方為UI-NA角值,左下方為LI-NB距(mm),右下方為LI-NB角值,底部為Po-NB距值。
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